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直流微電阻計(jì)與交流微電阻計(jì)測(cè)量和使用的區(qū)別,日本日置的交流微電阻計(jì)以HIOKI 3560和HIOKI3561為例,日本日置直流微電阻計(jì)以HIOKI 3540和HIOKI 3541為例。這樣交流微電阻計(jì)與直流微電阻計(jì)區(qū)別在下面表里反應(yīng)出來(lái)
測(cè)量原理 | 直流微電阻計(jì)(3540、3541) | 交流微電阻計(jì)3560、3561 |
測(cè)量原理 | 從主機(jī)輸出DC恒電流、確認(rèn)被測(cè)量物(電阻)による電壓下降 | 從主機(jī)輸出AC恒電流、確認(rèn)被測(cè)量物(電阻)引起的電壓下降 |
DC電流回路(蓄電池等)上AC電流不會(huì)有影響 | ||
電阻測(cè)量精度 | 比較高(zui高0.007%) | 若干低(zui高0.5%) |
熱起電力影響 | 有影響(3541能去掉)熱起電力發(fā)生多余電壓引起電阻計(jì)的精度低下 | 沒(méi)有 |
微電阻量程測(cè)量電流 | 比較大(3540是100mA、3541是1A)嫌惡大電流的元件(開(kāi)關(guān)的氧化膜等)被破壞 | 小(3560是7.4mA、3561是10mA) |
測(cè)量原理 | 直流微電阻計(jì)(3540、3541) | 交流微電阻計(jì)3560、3561 |
測(cè)量原理 | 從主機(jī)輸出DC恒電流、確認(rèn)被測(cè)量物(電阻)による電壓下降 | 從主機(jī)輸出AC恒電流、確認(rèn)被測(cè)量物(電阻)引起的電壓下降 |
DC電流回路(蓄電池等)上AC電流不會(huì)有影響 | ||
電阻測(cè)量精度 | 比較高(zui高0.007%) | 若干低(zui高0.5%) |
熱起電力影響 | 有影響(3541能去掉)熱起電力發(fā)生多余電壓引起電阻計(jì)的精度低下 | 沒(méi)有 |
微電阻量程測(cè)量電流 | 比較大(3540是100mA、3541是1A)嫌惡大電流的元件(開(kāi)關(guān)的氧化膜等)被破壞 | ?。?560是7.4mA、3561是10mA) |